光學顯微鏡附件有以下幾個：BF，明場，適合看平面； DF，暗場，適合看金屬 PL，偏振，適合看有機薄膜；DIC，差分，適合看IMC；AS，孔徑光闌，可以得到一定的景深，相當于小孔成像，孔徑越小，景深越大；FS，視場光闌，可以縮小視場，不大常用；BF/DF/PL/DIC可以讓顯微鏡輸出不同的襯度，AS則可以略微改變成像的景深。其中偏振是非常重要的附件，因其有極佳的顏色襯度，特別是對不同種類的有機物可以呈現出不同的顏色，這是明場像，暗場像，甚或是SEM，包括EDX均無法實現的分辨能力。可以這樣說，偏振附件對有機污染以及有機異物的觀察在某些應用場合是不可替代的。舉個例子，在偏振光下，PCB基板表面的綠漆是透明的淡綠色，這意味著不必去掉綠漆，就能看到綠漆下面銅布線的缺陷。暗場雖有類似的效果，但其亮度較低且顏色襯度較差，使其遠沒有達到偏振的清晰程度。

金相學主要指借助光學(金相)顯微鏡和體視顯微鏡等對材料顯微組織、低倍組織和斷口組織等進行分析研究和表征的材料學科分支，既包含材料顯微組織的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的樣品制備、準備和取樣方法。其主要反映和表征構成材料的相和組織組成物、晶粒(亦包括可能存在的亞晶)、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷(例如位錯)的數量、形貌、大小、分布、取向、空間排布狀態等。金相顯微鏡是將光學顯微鏡技術、光電轉換技術、計算機圖像處理技術完美地結合在一起而開發研制成的高科技產品，可以在計算機上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進行分析，評級等以及對圖片進行輸出、打印。眾所周知，合金的成分、熱處理工藝、冷熱加工工藝直接影響金屬材料的內部組織、結構的變化，從而使機件的機械性能發生變化。因此用金相顯微鏡來觀察檢驗分析金屬內部的組織結構是工業生產中的一種重要手段。

金相顯微鏡的光學系統與機械部件，在出廠前已經裝配成一部完整的光學儀器。但其中某光學部件(如目鏡、物鏡、攝影裝置等)由于保管上的需要(如為了防琢、防塵、防展等》，平時存放在專門的設備中集中保管，到使用時才把這些光學部件安裝在顯微鏡上。顯微鏡使用完畢，又孺將這些光學部件從顯微鏡架身上拆卸下來，放回專門的保管設備中。由此可見，一部金相顯微鏡在使用過程中，是要經常安裝和拆卸某些光學部件的