光譜儀包括哪幾部分？入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄狻Ｔ摐?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。色散元件: 通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長(zhǎng)分散成為多條光束。聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長(zhǎng)。探測(cè)器陣列：放置于焦平面，用于測(cè)量各波長(zhǎng)像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測(cè)器陣列可以是CCD陣列或其它種類(lèi)的光探測(cè)器陣列。

直讀光譜儀選好控制試樣：光電光譜分析大都采用控制試樣法，這就會(huì)遇到有關(guān)控制標(biāo)鋼來(lái)源、化學(xué)成分的確定及使用等一系列問(wèn)題。對(duì)一些新開(kāi)展光電光譜分析工作的單位尤需注意。初開(kāi)展工作中，可以在生產(chǎn)中選取一些樣品，經(jīng)可靠的化學(xué)分析方法多次分析，得到準(zhǔn)確結(jié)果作為控制試樣。用此樣控制作光譜的試樣分析，同時(shí)與化學(xué)分析進(jìn)行對(duì)照(這個(gè)階段叫平行分析。積累一批數(shù)據(jù)以后，驗(yàn)證相互偏差不大，光譜分析便可正式投產(chǎn))。高低標(biāo)樣，控制樣品中的低含量元素，單靠從生產(chǎn)中選取是遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足生產(chǎn)需要的，可以從軋材中選取和進(jìn)行專門(mén)冶煉。不論是生產(chǎn)中、軋材中和專門(mén)冶煉得到的控制標(biāo)鋼，必須事先進(jìn)行均勻性檢查、化學(xué)分析和平行分析對(duì)照階段。在爐中分析時(shí)，應(yīng)盡量選用同鋼種的標(biāo)樣做控制分析，其元素成份和含量范圍要接近被分析試樣。

你知道原子發(fā)射光譜儀嗎？應(yīng)用原子發(fā)射光譜分析原理,快速定量分析塊狀,棒狀 等金屬樣品的化學(xué)成分的光電光譜儀。叫直讀的原因是相對(duì)于攝譜儀和早期的發(fā)射光譜儀而言，由于在70年代以前還沒(méi)有計(jì)算機(jī)采用，所有的光電轉(zhuǎn)換出來(lái)的電流信號(hào)都用數(shù)碼管讀數(shù)，然后在對(duì)數(shù)轉(zhuǎn)換紙上繪出曲線并求出含量值，計(jì)算機(jī)技術(shù)在光譜儀應(yīng)用后，所有的數(shù)據(jù)處理全部由計(jì)算機(jī)完成，可以直接換算出含量，所以比較形象的管它叫直接可以讀出結(jié)果，簡(jiǎn)稱就叫直讀，在國(guó)外沒(méi)有這個(gè)概念。其分析原理是樣品在激發(fā)光源下被激發(fā), 其原子和離子躍遷發(fā)射出光, 進(jìn)入光學(xué)系統(tǒng)被色散成元素的光譜 線。 對(duì)選定的內(nèi)標(biāo)線和分析線的強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)量, 根據(jù)元素譜線強(qiáng)度與被測(cè)元素的濃度的相互關(guān)系,采用持久曲線法和控制試樣法得到試樣中被測(cè)元素的含量。