透射電子顯微鏡（TEM）是研究材料微結構zui直接的表征技術之一，能夠在納米到原子尺度對材料微結構進行成像與分析，目前，應用于材料的電學參數表征方法可以分為兩大類：一類為宏觀尺度技術，比如四點探針法或范德堡法，光學測量等，允許快速檢測，但只能提供直流電導率等單一參數信息，另一類為納米尺度的技術，如拉曼光譜、原子力顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡等，能夠得到分辨率很高的圖像，然而通常需要復雜的樣品制備步驟，并且測量速度十分緩慢，無法實現高速測量。

術后光鏡檢查很難與少支膠質細胞瘤區別，確切的組織學診斷依賴于透射電鏡檢查或免疫組織化學顯示特異性神經細胞抗原檢查，2002年，周邦新結合自己多年的研究經歷，聯合多位老師建議學校整合學校的實驗檢測設備資源，該研究綜合透射電鏡細胞生物學分析，蛋白質組學，代謝組學和生化分析，在模式植物擬南芥系統解析了自噬降解對蛋白質降解及其它細胞內蛋白運輸和降解的調控，并對發現的新現象進行了深入的探討，為植物細胞自噬降解調控的進一步深入機制研究提供了前提。

染色方法有單染，包括鉛鹽單染和鈾鹽單染；雙染色，醋酸鈾染色和檸檬酸鉛染色，雙染色呈現結果更全面，我們一般采用的雙染法進行染色，常用染色劑：醋酸鈾，有微弱的放射性，主要染核酸、核蛋白、細胞核、結締組織，檸檬酸鉛，主要染膜結構、脂類、糖原等，易與CO2反應成沉淀，染色中應采取措施避免，電鏡照片主要解析粒徑分布、單晶/多晶、晶面結構、元素和原子分散，其本質是信號的空間分布，基本機理與比例尺地圖是一致的。