XAFS方法通常具有元素分辨性，幾乎對所有原子都具有相應性，對固體（晶體或非晶）、液體、氣體等各類樣品都可以進行相關測試，XAFS原理示意圖，眾所周知，通過同步輻射XAFS表征技術可用獲得及其豐富的材料電子結構和配位結構信息，可以發現在許多頂刊發表的研究中XAFS都起到了至關重要的作用，擴展邊X射線吸收精細結構分析：XAFS原始數據可以分為擴展邊X射線吸收精細結構（EXAFS）和近邊X射線吸收精細結構（XANES）兩部分。

本期，筆者重點介紹同步輻射XAFS技術，不依賴于長程有序結構，可用于非晶態材料的研究；，不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；，不受樣品狀態影響，可測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態）和氣體等；，作者以Bi和Bi2O3作為參考，分析了Bi2O2Se和Bi2O2Se/G復合材料中BiL3邊XANES光譜（圖8），同時利用吸收邊特征，根據偶極子選擇規則探測電子從2p3/2軌道到空6d軌道的激發。

第二代是同步輻射專用光源，典型設計為利用彎轉磁鐵產生同步輻射，它們都是電子儲存環，通常能量較低，如美國布魯克海文guo家實驗室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步輻射實驗室LNLS光源（1，然而XAFS測試的門檻相對較高，一方面是由于國內機時供不應求，如上海光源BL14W1線站的機時申請獲批率僅有15%；另一方面，數據解析所涉及的物理知識相對深奧，需要有一定基礎的專業人員才能解析出更具有可信度的結果。