本期，筆者重點介紹同步輻射XAFS技術，不依賴于長程有序結構，可用于非晶態材料的研究；，不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；，不受樣品狀態影響，可測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態）和氣體等；，作者以Bi和Bi2O3作為參考，分析了Bi2O2Se和Bi2O2Se/G復合材料中BiL3邊XANES光譜（圖8），同時利用吸收邊特征，根據偶極子選擇規則探測電子從2p3/2軌道到空6d軌道的激發。

一代和第二代是按照加速器裝置的首要目的進行分類的，第三代也是同步輻射專用光源，與第二代光源的區別在于光源能量更高，比如美國阿貢guo家實驗室的APS光源（7GeV），勞倫斯伯克利guo家實驗室的ALS光源好消息！測試狗團隊與臺灣NSSRC、美國APS、SSRL等先進光源建立了穩定的合作模式，擁有穩定的商業機時用于樣品的測試，同時具有專業的數據解析團隊，可以提供可靠的XANES定性分析、EXAFS定量計算、小波變換分析、線性組分擬合等數據分析。

第二代是同步輻射專用光源，典型設計為利用彎轉磁鐵產生同步輻射，它們都是電子儲存環，通常能量較低，如美國布魯克海文guo家實驗室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步輻射實驗室LNLS光源（1，然而XAFS測試的門檻相對較高，一方面是由于國內機時供不應求，如上海光源BL14W1線站的機時申請獲批率僅有15%；另一方面，數據解析所涉及的物理知識相對深奧，需要有一定基礎的專業人員才能解析出更具有可信度的結果。