XAFS方法通常具有元素分辨性，幾乎對所有原子都具有相應性，對固體（晶體或非晶）、液體、氣體等各類樣品都可以進行相關測試，XAFS原理示意圖，眾所周知，通過同步輻射XAFS表征技術可用獲得及其豐富的材料電子結構和配位結構信息，可以發現在許多頂刊發表的研究中XAFS都起到了至關重要的作用，擴展邊X射線吸收精細結構分析：XAFS原始數據可以分為擴展邊X射線吸收精細結構（EXAFS）和近邊X射線吸收精細結構（XANES）兩部分。

EXAFS擬合，提供配位原子種類、配位數和鍵長信息，以及簡單的、從物理角度對譜的分析；，wavelet圖譜，作為EXAFS擬合的進一步證據，同時用小波炫圖來提高數據分析“逼格”；，幫答復審稿意見中關于XAFS的問題，提供中文回答，但不包括論文寫作；，EXAFS可以看作是中心元素內層電子吸收X射線躍遷到外層形成光電子，光電子以波的形式發射出去并受到周圍原子的散射，散射波與發射波產生干涉就得到了震蕩波譜。

第二代是同步輻射專用光源，典型設計為利用彎轉磁鐵產生同步輻射，它們都是電子儲存環，通常能量較低，如美國布魯克海文guo家實驗室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步輻射實驗室LNLS光源（1，然而XAFS測試的門檻相對較高，一方面是由于國內機時供不應求，如上海光源BL14W1線站的機時申請獲批率僅有15%；另一方面，數據解析所涉及的物理知識相對深奧，需要有一定基礎的專業人員才能解析出更具有可信度的結果。