功能介紹

X射線吸收精細結構（X-ray absorption fine structure，XAFS），也叫X射線吸收譜（X-ray absorption spectroscopy，XAS），是一種基于同步輻射光源、研究材料局域原子或電子結構的一種有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域，主要有以下優點：

1.不依賴于長程有序結構，可用于非晶態材料的研究；

2.不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；

3.不受樣品狀態影響，可測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態）和氣體等；

4.對樣品無破壞，可進行原位測試；

5.能獲得高精度的配位原子種類、配位數及原子間距等結構參數，一般認為原子間距精確度可達0.01?。

西安同步輻射檢測機構

XAFS數據解析可提供以下數據及服務：

1.XANES部分圖譜，提供價態、初步結構的定性分析；

2.EXAFS擬合，提供配位原子種類、配位數和鍵長信息，以及簡單的、從物理角度對譜的分析；

3.wavelet圖譜，作為EXAFS擬合的進一步證據，同時用小波炫圖提高數據分析“逼格”；

4.幫答復審稿意見中關于XAFS的問題，提供中文回答，但不包括論文寫作；

5.同步輻射不參與論文致謝活動，且致謝半價活動于2020年1月1日結束，所有優惠政策不可疊加。